及時(shí)發(fā)現(xiàn)并解決古董分析儀故障才能確保其準(zhǔn)確性
2024-11-21
古董分析儀利用光譜分析、X射線熒光（XRF）等技術(shù)，對(duì)古董及藝術(shù)品進(jìn)行非破壞性檢測(cè)，分析其成分、年代及制作工藝。它能夠精確測(cè)量古董中各種元素的含量，如鈉、鎂、鋁、鈣、鐵等，通過比對(duì)數(shù)據(jù)庫(kù)中的標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)，判斷古董的真?zhèn)巍⒛甏爱a(chǎn)地。古董分析儀在長(zhǎng)時(shí)間使用過程中，可能會(huì)出現(xiàn)故障。以下是...
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便攜式礦石分析儀真空型礦石成分分析光譜儀的應(yīng)用介紹
便攜式礦石分析儀Compass-300真空型礦石成分分析光譜儀?X射線光譜現(xiàn)場(chǎng)分析技術(shù)是采用現(xiàn)場(chǎng)X射線光譜儀在采樣現(xiàn)場(chǎng)對(duì)待測(cè)目標(biāo)體中元素進(jìn)行快速地定性和定量分析技術(shù),又稱為現(xiàn)場(chǎng)X射線熒光礦石分析儀。根據(jù)現(xiàn)場(chǎng)分析的應(yīng)用場(chǎng)景與采樣方法,X射線光譜現(xiàn)場(chǎng)分析可分為X射線光譜現(xiàn)場(chǎng)原位分析和X射線光譜現(xiàn)場(chǎng)取樣分析。現(xiàn)場(chǎng)原位分析是指將X射線光譜分析儀的探測(cè)窗直接置于巖(礦)石露頭或土壤或其他待測(cè)物料的表面,在現(xiàn)場(chǎng)原生條件下獲取待測(cè)目標(biāo)體中元素種類和元素含量的分析方法;現(xiàn)場(chǎng)取樣分析是指對(duì)待測(cè)...
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XRF礦石分析儀測(cè)試螢石中 CaF2、SiO2、Fe2O3和 S成分?
EDX9000Bplus礦石分析儀測(cè)試螢石中CaF2、SiO2、Fe2O3和S成分?螢石（Fluorite或Fluorspar或Fluor），又稱氟石、砩石，是一種礦物，其主要成分是氟化鈣（CaF2），含雜質(zhì)較多。其中的鈣常被釔和鈰等稀土元素替代，此外還含有少量的Fe2O3、SiO2和微量的Cl、O3和He等。自然界中的螢石常顯鮮艷的顏色，硬度比小刀低[1]。螢石可以用于制備氟化氫：CaF2+H2SO4→CaSO4+2HF[2]；它的色散極低，對(duì)紅外線、紫外線的透過性能高，適...
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XRF鍍層測(cè)厚膜厚儀應(yīng)用介紹
RF鍍層測(cè)厚儀EDX-8000B涂層膜厚儀使用XRF進(jìn)行涂層測(cè)量的好處準(zhǔn)確的厚度測(cè)量有助于制造商提供優(yōu)質(zhì)產(chǎn)品，同時(shí)控制成本。涂層的厚度應(yīng)與完成工作所需的一樣厚；制造涂層太厚的產(chǎn)品會(huì)增加制造成本?？蛻暨€通過確保他們收到的材料涂有正確的材料和正確的厚度來(lái)測(cè)量涂層，以對(duì)進(jìn)料進(jìn)行質(zhì)量控制。使用快速、高效且無(wú)損的工具有助于在產(chǎn)品線和現(xiàn)場(chǎng)進(jìn)行質(zhì)量控制。一臺(tái)EDX8000測(cè)厚儀可以在短短10秒內(nèi)提供測(cè)試結(jié)果，并且可以通過單點(diǎn)校準(zhǔn)鏡頭來(lái)完善結(jié)果，只需30秒即可完成。EDX8000膜厚儀也不會(huì)...
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XRF熒光光譜儀合金分析儀在鋅合金分析中的應(yīng)用
XRF熒光光譜EDX9000A?合金分析儀在鋅合金分析中的應(yīng)用EDX9000A合金分析儀配備一個(gè)含35種以上元素的標(biāo)準(zhǔn)包，在幾秒鐘內(nèi)可生成合金的化學(xué)成分和牌號(hào)信息。從簡(jiǎn)單的分揀到具有挑戰(zhàn)性的牌號(hào)區(qū)分，合金分析光譜儀EDX9000A都會(huì)提供高度精細(xì)的材料化學(xué)成分，以快速準(zhǔn)確地辨別純金屬和合金牌號(hào)。這些金屬和合金包含但不限于以下所列項(xiàng)目：鋁合金貴金屬鉻鉬鋼不銹鋼鈷合金工具鋼銅合金鈦合金異常合金鍛鋁合金鎂合金鋅合金鎳合金鋯合金鎳/鈷合金本案我們?cè)赬射線能量色散熒光光譜分析(XRF)...
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XRF合金分析儀用溶片玻璃法分析錳鐵錳硅和金屬錳
XRF熔片玻璃法分析錳鐵,錳硅合金和金屬錳---EDX9000A合金分析儀硅鐵和硅錳合金是鋼鐵冶煉主要的添加劑和脫氧劑，準(zhǔn)確的測(cè)定其中各個(gè)元素是十分必要的。作為合金分析通常采用化學(xué)分析方法測(cè)定主量元素硅和錳，采用ICP原子發(fā)射光譜儀測(cè)定其中的各雜質(zhì)元素，就其方法而言化學(xué)分析方法耗時(shí)較長(zhǎng)，操作繁復(fù)，ICP分析時(shí)間長(zhǎng)，而且需要進(jìn)行試樣分解。通過大量的實(shí)驗(yàn)研究確定了試樣粒度、樣環(huán)的材質(zhì)、樣片的制備方法、測(cè)定條件等采用XRF熔片法測(cè)定硅鐵和硅錳合金，可以直接玻璃熔片法，同時(shí)進(jìn)行主量元...
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XRF鍍層測(cè)厚儀在金屬鍍層定量定性分析中的應(yīng)用
XRF熒光膜厚儀鍍層測(cè)厚儀EDX8000B在金屬鍍層定性和定量分析中的應(yīng)用?X射線熒光光譜(XRF)鍍層測(cè)厚儀EDX8000B廣泛應(yīng)用于在鍍層中的定性和定量分析。我們對(duì)檢測(cè)步驟進(jìn)行了測(cè)量和優(yōu)化.該方法采用每個(gè)元素*的特征X射線來(lái)確定是否沉積上某種元素;利用FP法快速測(cè)定一組在不同濃度的電解液中電沉積所得鍍層中的銅元素含量,結(jié)果表明該方法可以快速測(cè)定鍍層中元素含量的變化,該方法具有測(cè)試準(zhǔn),投入少,易掌握,速度快等特點(diǎn)X-RAY測(cè)厚儀EDX8000B的基本原理X射線廣泛用于各種無(wú)...
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XRF多元素成分分析儀在選礦尾礦上的應(yīng)用
硅鐵，鈣鐵，鐵紅，磁鐵礦，錳鐵，鉻鐵，鉬鐵，鈦鐵，釩鐵分析儀EDX9000B多元素分析儀?英飛思EDX9000B光譜儀主要應(yīng)用于在采礦過程的所有階段進(jìn)行材料元素成分分析。從勘探樣品到礦物精礦，從選礦到尾礦，EDX9000B都在苛刻的采礦環(huán)境中均具有出色的靈活性，分析性能和穩(wěn)定性。EDX9000B專注于對(duì)地質(zhì)材料的主量，微量和痕量元素進(jìn)行定性和定量分析，其中包括：?鐵礦?銅礦?鋁土礦?貴金屬礦產(chǎn)?稀土礦?原料?磷酸鹽?煤炭?鉛鋅礦?錳礦?鎳礦?石灰石?粘土?石膏?玻璃?土壤?水...
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